阻抗分析儀
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產(chǎn)品名稱: 阻抗分析儀
產(chǎn)品型號(hào): IM3570
產(chǎn)品展商: 日本日置
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
阻抗分析儀IM3570 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
LCR模式下*快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量
基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量
阻抗分析儀
的詳細(xì)介紹
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| 阻抗分析儀IM3570 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查 |
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- 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
- LCR模式下*快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量
- 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
- 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量
- 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
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| 主機(jī)不標(biāo)配治具。請(qǐng)根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。 |
| 阻抗分析儀IM3570基本參數(shù) |
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| 測(cè)量模式 |
LCR（LCR測(cè)量），分析儀（掃描測(cè)量），連續(xù)測(cè)量 |
| 測(cè)量參數(shù) |
Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q |
| 測(cè)量量程 |
100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數(shù)由Z確定） |
| 顯示范圍 |
Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示**值
θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%） |
| 基本精度 |
Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
| 測(cè)量頻率 |
4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進(jìn)） |
| 測(cè)量信號(hào)電平 |
V模式，CV模式（普通模式）
50mV~1Vrms，1mVrms步進(jìn)（1MHz以下）
10mV~1Vrms，1mVrms步進(jìn)（1.0001MHz以上）
CC模式（普通模式）
10μA~50mA rms，10μA rms步進(jìn)（1MHz以下）
10μA~10mA rms，10μA rms步進(jìn)（1.0001MHz以上） |
| 輸出阻抗 |
普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω |
| 顯示 |
彩色TFT5.7英寸，可設(shè)置顯示ON/OFF |
| 測(cè)量時(shí)間 |
0.5ms（100kHz，F(xiàn)AST，顯示OFF，代表值） |
| 測(cè)量速度 |
FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
| 其他功能 |
DC偏壓測(cè)量，比較功能，面板讀取和保存，存儲(chǔ)功能 |
| 接口 |
EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤(pán)，LAN |
| 電源 |
AC90~264V，50/60Hz，*大150VA |
| 打印 |
拷貝測(cè)量值或屏幕顯示的要點(diǎn)（需用9442，9593-01和9446） |
| 接口 |
GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標(biāo)準(zhǔn)) |
| 電源 |
AC90~264V，50/60Hz，*大150VA |
| 體積和重量 |
330W×119H×307Dmm，5.8kg |
| 附件 |
電源線×1，使用說(shuō)明書(shū)×1，通訊手冊(cè)×1 |
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