桌上型單站測(cè)試分類機(jī)
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產(chǎn)品名稱: 桌上型單站測(cè)試分類機(jī)
產(chǎn)品型號(hào): 3111
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
適用于系統(tǒng)功能檢測(cè) (SLT)
機(jī)臺(tái)尺寸：600mm(W) x 570mm(D) x 860mm(H)
支持*大測(cè)試版尺寸為200mm(W) x 200mm(D)
桌上型設(shè)計(jì)僅占較小空間
可放置兩個(gè)JEDEC料盤
支持5x5mm到45x45mm芯片尺寸
可由軟件接口設(shè)定分類數(shù)
測(cè)試頭內(nèi)建氣室，可吸收及減緩下壓觸力沖擊
優(yōu)化的IC下壓接觸平整度
優(yōu)化的Socket使用壽命
IC堆棧防護(hù)
連續(xù)性自動(dòng)重測(cè)功能
*高可達(dá)125℃測(cè)試溫度
1/3000 jam rate
CE 認(rèn)證
桌上型單站測(cè)試分類機(jī)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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適用于系統(tǒng)功能檢測(cè) (SLT)
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機(jī)臺(tái)尺寸：600mm(W) x 570mm(D) x 860mm(H)
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支持*大測(cè)試版尺寸為200mm(W) x 200mm(D)
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桌上型設(shè)計(jì)僅占較小空間
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可放置兩個(gè)JEDEC料盤
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支持5x5mm到45x45mm芯片尺寸
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可由軟件接口設(shè)定分類數(shù)
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測(cè)試頭內(nèi)建氣室，可吸收及減緩下壓觸力沖擊
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優(yōu)化的IC下壓接觸平整度
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優(yōu)化的Socket使用壽命
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IC堆棧防護(hù)
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連續(xù)性自動(dòng)重測(cè)功能
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*高可達(dá)125℃測(cè)試溫度
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1/3000 jam rate
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CE 認(rèn)證
Chroma 3111迷你桌上型單站的自動(dòng)化測(cè)試分類機(jī)適用于系統(tǒng)功能檢測(cè)，也同時(shí)具備終端電性測(cè)試的能力，系統(tǒng)支持各種不同類型的封裝芯片，支持的芯片尺寸從5x5mm到45x45mm。
Chroma 3111同時(shí)包含廣闊的芯片尺寸測(cè)試，即便在復(fù)雜的測(cè)試要求環(huán)境下也對(duì)智慧手機(jī)，電腦，車用的IC也同樣有著高效率的測(cè)試產(chǎn)出效率為提升產(chǎn)能，3111具備遠(yuǎn)程功能可于任何地點(diǎn)透過網(wǎng)絡(luò)連接方式進(jìn)行控制，3111可用軟件設(shè)定JEDEC料盤的分配以及進(jìn)行工程測(cè)試，在60公分平方的空間里發(fā)揮*大的效用以節(jié)省時(shí)間和成本，簡(jiǎn)易操作的系統(tǒng)接口(Windows?)提供一個(gè)快速且容易的設(shè)定方式，可簡(jiǎn)化流程并提高效率。
