除開外觀設計，其先進的用戶界面，配合上12.1英寸超大觸摸屏與外接的鼠標和鍵盤，讓工程師能更快的添加或刪除窗口，通道和跡線。SNA5000A支持在多個窗口下，添加多條跡線進行S參數測量。并且測量結果，可以多種數據格式顯示，如 Log Mag，Lin Mag，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數，反射系數，駐波比，阻抗匹配，相位，延時等參數。

在微波射頻領域，如何有效消除有害的測試夾具效應是一大挑戰(zhàn)。比如在對SMD器件進行測試時需要特定的測試夾具實現測試儀器測試端與器件輸入端的轉接，導致測試結果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000A系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉換，去嵌入，適配器移除等。
另外，SNA5000A系列還支持TDR時域反射計測量功能，可在時域對傳輸線的特征阻抗，時延等參數進行分析。